高温四探针综合测试系统符合的标准：
1、符合gb/t 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》
2、符合gb/t 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》
最后我们来了解一下高温四探针综合测试系统的应用：
1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
2、可测柔性材料导电薄膜电阻率/方阻；
3、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ito膜）电阻率/方阻；
4、纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻；
5、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量；
6、可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。